2017年3月29日，第45屆日內瓦國際發明展在瑞士日內瓦Palexpo會展中心開幕。公司研發的產品“超高精度光學平面度檢測儀”榮獲第45屆日內瓦國際發明展特別金獎。

第45屆日內瓦國際發明展在瑞士日內瓦舉行，日內瓦國際發明展是世界三大發明展之一，它創辦于1973年，由世界知識產權組織、瑞士聯邦政府等共同舉辦，是世界上歷史最長、規模最大的發明展之一，也是全球發明者重要的展示舞臺，是高新技術“產學研”轉化的重要國際化平臺。

本屆日內瓦國際發明展項目主要集中在醫藥、健康、材料、環保、能源、機械、交通和安全等領域，共有來自40多個國家的725個參展商帶來約1000項新發明成果，其中52%來自亞洲，32%來自歐洲，12%來自遠東地區。新發明80%來自企業、大學和研究機構，20%為個人發明。中國參展的發明成果97項，參展單位包括清華大學、北京大學、浙江大學、香港理工大學等多所名校。發明展由85位國際專家組成的國際評審團和參觀者投票最終評選出獲獎項目。

2017年4月3日的中央電視臺《新聞聯播》和《新聞直播間》節目均對本屆發明展予以了報導。

第45屆日內瓦發明展評委會主席與公司參展人員合影