近期，中國計量科學(xué)研究院主辦的第39屆亞太計量規(guī)劃組織（APMP）全體大會在深圳召開，大會召開期間“2030+宏偉愿景：創(chuàng)新計量科技，應(yīng)對全球挑戰(zhàn)”大型國際研討會盛大啟幕。本次大會旨在促進(jìn)全球計量科學(xué)交流，推動計量國際合作高質(zhì)量可持續(xù)發(fā)展。

頒獎典禮上，中國計量院院長方向作為唯一獲獎人獲得APMP獎，該獎項是APMP最高級別獎項，授予為亞太計量發(fā)展作出重要貢獻(xiàn)的個人或成員機(jī)構(gòu)。此外，中國計量院力聲所副研究員胡滿紅獲APMP青年計量科學(xué)家獎，APMP現(xiàn)任執(zhí)行委員會委員、中國計量院院長方向，清潔水焦點工作組（CWFG）現(xiàn)任主席、標(biāo)物中心研究員馬聯(lián)弟，液體流量技術(shù)委員會（TCFF）現(xiàn)任主席、熱工所研究員李春輝和醫(yī)學(xué)計量焦點工作組（MMFG）現(xiàn)任主席、醫(yī)學(xué)中心副研究員定翔獲APMP技術(shù)服務(wù)獎。

蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司董事長韓森教授出席參加了此次會議，并與行業(yè)專家進(jìn)行了深度交流。

“科技要發(fā)展計量須先行”。蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司的高精度數(shù)字化激光干涉儀是現(xiàn)階段平面度計量的最佳方案，自2009年起慧利儀器相關(guān)產(chǎn)品及技術(shù)已在國家各省、市級計量單位實現(xiàn)推廣和應(yīng)用。其中平面絕對檢測技術(shù)被多家計量單位所采用，用于一等平晶標(biāo)定及超光滑元件面形及透射波前檢測。超精密平面檢測干涉儀及絕對校準(zhǔn)技術(shù)能突破國家一等平晶面形精度的限制，檢測精度PV高達(dá)λ/100，極大提高了平晶計量檢定精度。