2019年10月25日，由上海理工大學主辦，中國工程院信息與電子工程學部、中國計量科學研究院、中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所、中國測試技術研究院、蘇州慧利儀器有限責任公司聯合主辦，國際光學工程學會上海理工大學學生分會協辦的“平面計量國際研討會”于上海理工大學成功召開。
中國工程院院士莊松林、中國工程院院士李同保、中國工程院外籍院士和澳大利亞兩院院士顧敏、上海理工大學教授張大偉、德國聯邦物理技術研究所主任Gerd Ehret、英國南安普頓大學教授John Mcbride、德國斯圖加特大學主任Pedrini Giancarlo、上海理工大學教授蘇州慧利儀器有限責任公司董事長韓森等參會嘉賓共計百余人一同出席了本次研討會。
本次研討會的特點是高聚焦和國際化，聚焦計量技術領域最新發展、熱點話題、關鍵挑戰等問題，推動計量測試技術發展，促進行業技術交流與合作。
中國工程院院士莊松林致開幕辭
德國聯邦物理技術研究所主任Gerd Ehret作報告
長春光機所副所長張學軍作報告
英國南安普頓大學教授John Mcbride作報告
德國斯圖加特大學主任Pedrini Giancarlo作報告
俄羅斯應用物理科學研究所博士Dmitry Silin作報告
中國測試技術研究院副所長冉慶作報告
慧利儀器董事長、上海理工大學教授韓森作報告
與會專家討論交流
與會專家參觀超凈干涉儀實驗室
與會專家參觀大口徑干涉儀實驗室
與會專家合影留念
